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Statistique industrielle, Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP
EAN13
9782100822768
Éditeur
Dunod
Date de publication
Langue
français
Fiches UNIMARC
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Statistique industrielle

Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP

Dunod

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  • Aide EAN13 : 9782100822768
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La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n’a jamais
été aussi importante qu’aujourd’hui, entraînant un bond en avant de la
statistique industrielle, discipline visant à utiliser ces données dans le but
de contrôler, fiabiliser et optimiser les procédés industriels.
Après avoir détaillé l’évaluation et la maîtrise des systèmes de mesure, le
concept d’estimation et son lien avec l’échantillonnage, les plans
d’échantillonnage, les cartes de contrôle et l’aptitude des procédés, cet
ouvrage présente 7  cas d’étude issus de problèmes industriels dans des
domaines aussi variés que la microélectronique, l’aéronautique, l’industrie
pharmaceutique et l’automobile. Le lien entre la maîtrise statistique des
procédés et la maintenance prédictive fait aussi l’objet d’une analyse
concrète.
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